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簡要描述:日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點,適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。
深圳納加霍里科技專業代理銷售日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050 產品特點如下:
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K050與標準型相比,該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載,使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等,對于每個間距,您不僅可以選擇柱塞*形狀,還可以選擇負載。您可以選擇適合您需求的型號。
KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針,以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸壓力 為核心特點,適用于需要 中等密度排布 且 兼顧電流承載能力 的半導體測試場景。
1. 設計亮點
① 高可靠性接觸
雙層彈簧結構:內層提供初始接觸力,外層承擔高負載,避免單點疲勞失效。
冠形針頭設計:多點接觸模式,穿透焊盤氧化層的同時減少劃傷風險。
② 適應性優化
可調行程:支持定制化行程(1.8-3.0mm),適配不同PCB厚度公差。
防卡死導向:特氟龍涂層導向套,減少摩擦導致的卡針問題。
③ 信號完整性
低電感設計:<1nH(1MHz下),適合高速數字信號(如DDR5)測試。
2. 典型應用
功率模塊測試:
GBT/SiC模組的柵極驅動信號測試(5A電流需求)。
電動汽車逆變器PCB的循環耐久性驗證。
高密度PCB檢測:
服務器主板PCIe插槽的阻抗連續性檢查。
5G基站射頻模塊的焊點導通性測試。
3. 核心參數
特性 | 參數值/描述 |
---|---|
針徑 | 0.50 mm(平衡尺寸與強度) |
額定電流 | 5A(瞬態峰值可達8A) |
工作負載 | 500-800gf(穩定接觸氧化表面) |
行程范圍 | 2.0-2.5 mm(優化緩沖行程) |
接觸電阻 | ≤25mΩ(鍍金觸點,低衰減) |
機械壽命 | ≥80萬次(標準負載) |
耐溫范圍 | -40°C ~ +150°C(高溫可選型號) |
4. 核心型號參數對比
型號 | 額定電流 | 最大負載 (gf) | 行程 (mm) | 針徑 (mm) | 特點 |
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K039 | 3A | 300-500 | 1.5-2.0 | 0.39 | 微型化設計,高密度測試 |
K050 | 5A | 500-800 | 2.0-2.5 | 0.50 | 平衡負載與壽命 |
K075 | 7A | 800-1200 | 2.5-3.0 | 0.75 | 高電流/高耐久性 |
K100 | 10A | 1200-1500 | 3.0-4.0 | 1.00 | 強負載,工業級應用 |
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